CP08: Análisis de sensibilidad de circuitos frente a eventos transitorios producidos por radiación Projects uri icon

type

  • Regional Research Project

reference

  • CCG08-UC3M/DPI-4515

date/time interval

  • January 1, 2009 - February 28, 2010

keywords

  • inyección de fallos; efectos de radiación; emulación