researchers ENTRENA ARRONTES, LUIS ALFONSO Principal Researcher LOPEZ ONGIL, CELIA Researcher SAN MILLAN HEREDIA, ENRIQUE Researcher GARCIA VALDERAS, MARIO Researcher QUESADA REDONDO, ISABEL Researcher MARTIN JIMENEZ, MIGUEL Researcher
keywords tolerancia a fallos; irradiación de circuitos integrados; haces de iones; reconfiguración dinámica; test bajo radiación; inyección de fallos; emulación hardware de fallos transitorios; dispositivos reprogramables: fpgas de sram