Efectos de Radiación sobre Tecnologías de Semiconducttores Nanométricas. Emulación mediante modelo Instrumentario (Emulsión Autónoma) Projects uri icon

type

  • National Research Project

reference

  • TEC2006-13278-C03-01

date/time interval

  • October 1, 2006 - September 30, 2007

keywords

  • tolerancia a fallos; irradiación de circuitos integrados; haces de iones; reconfiguración dinámica; test bajo radiación; inyección de fallos; emulación hardware de fallos transitorios; dispositivos reprogramables: fpgas de sram