El proyecto NeCOT aborda el uso de circuitos comerciales diseñados para aplicaciones terrestres (COTS) en el espacio con relación directa con las misiones y aplicaciones New Space. El tema de investigación se enmarca en el ámbito espacial en la prioridad temática 4: "Mundo digital, industria, espacio y defensa" del "Plan Estatal de investigación Científica Técnica y de Innovación 2021-2023". NeCOT es un proyecto coordinado (UC3M, UA) en el campo de los efectos de radiación en circuitos electrónicos. El equipo UC3M tiene amplia experiencia en el diseño de circuitos electrónicos endurecidos para el espacio, mientras que el equipo UA es experto en el endurecimiento software. Fusionar las perspectivas HW y SW es un gran beneficio para el equipo y los resultados de la investigación. Ambos equipos tienen una sólida experiencia en el campo y una línea de colaboración consolidada durante más de 10 años. Han trabajado juntos en 4 proyectos competitivos financiados con fondos públicos: RENASER, RENASER+, RENASER3 y RENASER4. El uso de COTS en el espacio es una necesidad crítica en el escenario New Space. Su uso depende en gran medida de la capacidad de construir sistemas electrónicos fiables con componentes comerciales, más económicos que los espaciales. Esta propuesta de proyecto pretende contribuir a resolver este problema. Los equipos tienen amplia experiencia en la evaluación y mitigación de los efectos de la radiación, lo que les ha otorgado una posición reconocida en el campo a nivel nacional e internacional. Este proyecto trata sobre la fiabilidad de sistemas digitales complejos, Sistemas en Chip (SoC) con múltiples elementos de igual o diferente naturaleza. Los sistemas complejos COTS tienen beneficios sustanciales para su uso en New Space, pero su fiabilidad no está garantizada ya que fueron diseñados para aplicaciones terrestres. Se parte de los resultados del proyecto anterior (RENASER4) en el que se ha estudiado la fiabilidad de sistemas heterogéneo
Classification
keywords
onizing radiation, complex systems, digital integrated circuits, cots, fpga, microprocessor, radiation testing, aerospace environment; fault tolerance, single event effects