authors
- ALONSO-REVENGA, J.M.
- MARTIN APAOLAZA, NIRIAN
Estimadores de minima Phi-divergencia en modelos loglineales con modelos de muestreo complejo. Aplicaion para el modelo de Althman y Cohen.
Conference Contributions
Overview
event
- XXXIV Congreso de Estadistica e Investigacion Operativa
event place
- CASTELLON DE LA PLANA/CASTELLO DE LA PLA
participation category
- PONENCIA
web site
publication date
- 2013