Diseño y verificación de circuitos electrónicos a escala nanométrica para aplicaciones espaciales y terrestres en ambientes de radiación Projects uri icon

type

  • National Research Project

reference

  • ESP2015-68245-C4-1-P

date/time interval

  • January 1, 2016 - December 31, 2019

keywords

  • radiación ionizante; circuitos integrados digitales; cots; fpgas; microprocesadores; ensayos de irradiación; entorno aeroespacial;tolerancia a fallos; efectos por eventos simples