Análisis integral de circuitos y sistemas digitales para aplicaciones aeroespaciales, subproyecto "Diseño y verificación de sistemas digitales robustos" Projects uri icon

type

  • National Research Project

reference

  • TEC2010-22095-C03-03

date/time interval

  • January 1, 2011 - September 30, 2014

keywords

  • tolerancia a fallos; inyección de fallos por emulación hardware; mitigación de errores; endurecimiento de sistemas y circuitos; endurecimiento colaborativo; see; seu; fiabilidad de equipos aeroespaciales